主要業績評価指標(KPI)および分析証明書の紹介

主要な懸念事項への対応

製品バッチ間の品質は均一ですか?不純物は厳密に管理されていますか?純度は貴社のプロセス要件を満たしていますか?以下の技術データは、評価のための直接的な参考資料としてご活用ください。

I. 代表的な技術データシート(TDS)

1. 超高純度結晶性ホウ素(6Nグレード)

アイテム仕様
純度≥ 99.9999%
総金属不純物< 1.0 ppm
要素制限試験方法
Al≤ 0.4 ppmICP-MS
As≤ 0.5 ppmICP-MS
Cr≤ 0.2 ppmICP-MS
Cu≤ 0.3 ppmICP-MS
Fe≤ 0.9 ppmICP-MS
K≤ 0.7 ppmICP-MS
Mg≤ 0.5 ppmICP-MS
Na≤ 0.5 ppmICP-MS
Ni≤ 0.1 ppmICP-MS
Pb≤ 0.1 ppmICP-MS
Sb≤ 0.1 ppmICP-MS
粒子サイズ1~10 mm(≥500 µm)--
結晶相β-菱面体X線回折

 

 

2. 非晶質ホウ素粉末(3Nグレード)

アイテム仕様
純度99.9%以上
粒子サイズ500 µm – 5 mm
結晶構造α-正方晶(非晶質)

 

3. 濃縮三フッ化ホウ素11(¹¹BF₃)

アイテム仕様
¹¹B同位体存在比99.9原子%以上
化学的純度≥ 99.999%
個々の不純物(N₂ / O₂ / Ar / CO₂ / SO₂ / HF / SiF₄)それぞれ25 vppm以下

 

II. 標準的な分析証明書(CoA)のテンプレート

各製品ロットには、客観的で追跡可能な試験データを保証するため、認定を受けた第三者機関の研究所が独自に発行した完全な分析証明書(CoA)が添付されます。

テスト項目標準要件実際の測定値
ホウ素の純度≥ 99.9999%≥ 99.9999%
総金属不純物< 1.0 ppm< 0.5 ppm
結晶相β-菱面体β-菱面体
粒子サイズ1~10 mm(≥500 µm)準拠

 

III.純度向上ロードマップ:2Nから6Nまでの不純物制御の比較

お客様のプロセス要件に応じて、工業用グレードから半導体グレードまで、幅広いグレードからお選びいただけます。

学年純度総不純物量FeAlCuCrNiPb
2N99% ≤ 10,000 ppm500-12---
3N99.9% ≤ 1,000 ppm200-10---
4N99.99% ≤ 100 ppm90-0.1---
5N99.999% ≤ 10 ppm8-0.03---
6N99.9999% < 1.0 ppm0.90.40.30.20.10.1

 

IV. 技術文書のダウンロード

全製品ラインのTDS、CoAテンプレート、およびMSDSファイルは、弊社公式サイトの技術文書ダウンロードセンターからダウンロードできます。特定のバッチのオリジナルCoA文書をご希望の場合は、弊社営業チームまでお問い合わせください。

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当社のホウ素材料にご興味をお持ちですか?ご要望をメッセージでお知らせください。当社の技術営業チームが24時間以内にご返信いたします。
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